Modelagem matemática de sensores piezoresistivos baseados em filmes finos semicondutores
DOI:
https://doi.org/10.5540/03.2013.001.01.0106Resumen
Este trabalho apresenta os estudos teóricos sobre a caracterização do efeito piezoresistivo em filmes finos semicondutores através do desenvolvimento de modelos matemáticos e simulações computacionais, visando desenvolver um Ambiente Integrado de Testes para simulação e otimização de parâmetros elétricos, térmicos e mecânicos usados nos processos de fabricação de sensores piezoresistivos integrados.
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Publicado
2013-10-17
Número
Sección
Artigos